精密機械工学
Precision Machinery
2単位
目的
マイクロマシンや電子部品の製作に欠かせない薄膜に関して,その創成技術および特性評価技術について学習する.
概要
薄膜の基本概念,薄膜の作製方法,薄膜の結晶性と応力を学ぶ.薄膜創成では特に残留応力の発生が問題になり,その評価と制御を適正に行う必要がある.残留応力の測定法としてのX線応力測定法およびその薄膜応力への応用を理解する.また,薄膜の応力の性質について最近の研究を紹介する.工業にかかわる科目である.
キーワード
X線回折,X線応力測定,結晶構造,残留応力
先行科目
関連科目
要件
To master a basic concept of crysital
注意
To learn by yourself thin film preparation, crystallography, X-ray diffraction, X-ray stress measurement, micromachine and so on
目標
1. | 薄膜創成法を理解する |
2. | X線応力測定法を理解する |
3. | 薄膜の応力を理解する |
計画
1. | 薄膜の基本概念 |
2. | 薄膜の作製方法 |
3. | 薄膜の結晶性と応力 |
4. | 機械的方法による薄膜の応力測定 |
5. | X線回折(1)X線の性質 |
6. | X線回折(2)結晶の幾何学 |
7. | X線回折(3)原子および結晶による回折 |
8. | X線回折(4)粉末結晶からの回折 |
9. | レポートと発表 |
10. | X線応力測定法 |
11. | X線的方法による薄膜の応力測定 |
12. | 残留応力の発生 |
13. | 残留応力の回復 |
14. | 熱応力とストレスマイグレーション |
15. | 薄膜の応用 |
16. | 定期試験 |
評価
Report & presentation 40%, examination 60%
対象学生
開講コース学生のみ履修可能
教科書
None
連絡先
英(M317, 656-7377, hanabusa@me.tokushima-u.ac.jp)