マイクロ·ナノ工学
Micro-Nano Engineering
形態
ポートフォーリオ
目的
新材料の創生と応用のため，材料の局所領域評価とそのための手法および装置の設計·製作に関する研究能力を育成すること
概要
X線および光学的手法を用いて材料の結晶構造および微視的格子ひずみ，あるいは物質情報を抽出する手法，さらに結晶のミクロ·ナノ的構造とマクロ的性質の関係を基本とした新材料の創製·評価および応用，またそのための装置設計·製作に関する事項を講述する． (英 崇夫教授)X線回折法を利用した材料の結晶構造解析および格子ひずみ解析をとおして，新材料を創成·評価する手法の講義を担当する． (岩田哲郎教授)光学，分光学の手法を用いた物質情報の抽出手法，また，そのための計測機器，分析機器などの測定装置の設計と評価方法についての講義を担当する．科学計測学全般についても講述する．
キーワード
X線構造解析，科学計測
関連科目
要件
学部レベルの関連事項をよく理解していること．
目標
| 1. | X線回折手法の習得と材料創生·評価への応用 |
| 2. | 科学計測機器の設計·製作能力の育成 |
計画
| 1. | X線の基本的性質 |
| 2. | 結晶の幾何学 |
| 3. | 実格子と逆格子 |
| 4. | 原子による散乱強度 |
| 5. | 小さな結晶からの回折と積分強度 |
| 6. | 残留応力の種類 |
| 7. | X線応力測定法 |
| 8. | 科学計測機器と計測手法 |
| 9. | 分析機器と分析手法 |
| 10. | 顕微鏡と近接場光学 |
| 11. | 分析機器概論1 |
| 12. | 分析機器概論2 |
| 13. | 科学計測のための電子回路 |
| 14. | 科学計測のためのデータ処理 |
| 15. | 科学計測のためのシステム設計 |
| 16. | レポートとプレゼンテーション |
評価
授業最終日に課すレポートで評価する．
対象学生
開講コース学生のみ履修可能
教科書
授業中に紹介する．
参考資料
授業中に紹介する．
連絡先
岩田(M427, 088-656-9743, iwata@me.tokushima-u.ac(no-spam).jp)
英(M317, 088-656-7377, hanabusa@me.tokushima-u.ac(no-spam).jp)